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無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。

應用范圍：
無論是電鍍廠的簡單的鍍層厚度測量（例如鐵上鍍鋅），還是鍍液分析，復雜的多鍍層應用， 非常復雜的貴金屬分析或痕量分析（RoHS），一個軟件程序就可以完成所有的測量應用：WinFTM。

儀器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造理想的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。

特征

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
• X射線探測器采用比例接收器
• 準直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本濾片：固定或3個自動切換
• 測量距離可在0-80 mm范圍內調整
• 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。
• 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應用領域

• 大批量電鍍件測量
• 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
• 電鍍行業(yè)槽液分析
• 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
• 測量接插件和觸點的鍍層
• 電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
• 黃金，珠寶和手表行業(yè)

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